第七届国际测试仪器及应用技术大会
时间:2016-05-12 09:30 至 2016-05-12 15:30
地点:北京
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第七届国际测试仪器及应用技术大会 已过期
会议时间:2016-05-12 09:30至 2016-05-12 15:30结束 会议地点: 北京 中国国际展览中心(老馆) 朝阳区北三环东路6号 会议规模:300人 主办单位: 《电子产品世界》杂志社 |
会议通知
第七届国际测试仪器及应用技术大会将于2016年5月12日在北京中国国际展览中心(老馆)召开。
国际测试仪器应用技术大会主题方向:
1、高频无线信号的捕获与分析;
2、LTE及MIMO信号的测试方案;
3、毫米波微波信号的特点及测试技巧;
4、高可靠性的测试系统方案和测试技巧;
5、复杂自动化测试的架设和应用;
6、高频无线信号的捕获和分析;
部分演讲内容:
1、新时代,新视界,是德科技引领军工电子测试新趋势;
2、R&S新一代脉冲相位噪声测试方法;
3、军用测试测量技术的发展与应用;
4、直流电源输出阻抗和负载输入阻抗测量方法;
5、频率标准和时间间隔校准测量方法。
会议名称:第七届国际测试仪器及应用技术大会
会议时间:2016年5月12日
会议地点:北京中国国际展览中心(老馆)
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介绍: 由著名的美国IDG集团和中国科技信息研究所共同创办的《电子产品世界》是一本在中国积累了十八年成功媒体运作经验的一流电子杂志。每个月中国电子业的近十万工程师从《电子产品世界》上得到了丰富、及时、全面的电子技术和市场等方面的信息,他们有很多人甚至从大学时期开始就受到《电子产品世界》杂志的积极影响,在日后的工作中《电子产品世界》成为他们不可或缺的重要信息来源。
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